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簡要描述：靈活的自動掃描系統MDPmap設計用于離線生產控制或研發、測量少子壽命、光電導率、電阻率和缺陷信息等參數的小型臺式無觸點電特性測量儀器，在穩態或短脈沖...

簡要描述：激光掃描系統該儀器被設計用于工藝和材料的質量監控，例如單晶或多晶硅。多晶硅磚切割標準的自動輸出。能夠根據爐子的輸出質量進行單獨的爐子監控進行優化和決定...

簡要描述：晶體硅太陽電池SENperc PV是為PERC太陽能電池制造質量控制而設計的。它測量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用...

簡要描述：快速自動掃描系統MDPinline ingot系統是可用于多晶硅電氣特性的快的測量工具。它被設計用于高產量生制造工廠的研究用途。每塊磚都可以在不到兩分...

簡要描述：少子壽命測試儀MDPinline是一個用于定量測量少子壽命的緊湊型高速生產集成自動掃描系統。當晶片通過傳送裝置移動到儀器下面時，一片晶片的形貌測量在一...

簡要描述：薄膜反射和透射的在線監測系統RT inline 薄膜測量系統是為沉積過程的在線質量控制而設計的。該方法基于SENTECH的薄膜厚度探針FTPadv，用...

簡要描述：在線壽命和電阻率掃描儀電池生產線的進料質量調查是常見的應用案例，以及在鈍化和擴散之后的工藝質量檢查，在許多其他的專業應用領域也有很大的可能性。只需要集...

簡要描述：自動掃描薄膜測量儀器SenSol自動掃描儀器設計用于玻璃薄膜光伏制造中薄膜性能的質量控制的在線測量。大量的傳感器可以集成到SenSol傳感器平臺中。這...