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上海艾飛思精密儀器有限公司


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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

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商鋪產品:6條

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產品簡介

Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩定性的儀器。Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。納米粒度分布采用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量

詳細介紹

產品詳情

一、產品介紹

        Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩定性的儀器。

        Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。納米粒度分布采用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

二、主要技術指標與性能

  • Zeta電位測試

測試范圍

-500mv ~ 500mv

粒度范圍

1nm-9500nm(與樣品有關)

樣品池容積

400μl

測試原理

ELS(電泳光散射)

散射角

15 度

 濃度

 40% w/v

相關器

1000通道線性相關器

電導率范圍

200 mS/cm
  • 粒度分布測試

粒度測試范圍

1-9500nm(與樣品有關)

測試原理

DLS( 動態光散射)

重復性誤差

≤1%(國標樣D50 偏差)

相關器

1000 個物理通道

準確性誤差

≤1%(國標樣D50 偏差)

光源

固體激光器

樣品池容積

1ml / 4ml

激光器波長

671nm

樣品池溫控范圍

15℃—90℃

激光器功率

50mW

溫控精度

±0.2℃

散射角

90 度

  • 分子量測試 

分子量范圍

1000Da—2x107Da

準確性誤差

≤ 10%

測試原理

SLS(靜態光散射)

重復性誤差

≤ 5%

三、主要應用領域

        包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應用等領域。

四、突出特點

  • BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。
  • 納米粒度分布測量采用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。
  • 分子量測量采用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

五、良好的重復性

  • 穩定的折疊光路系統
  • 高速數據采集與轉換模塊
  • 高精度樣品池定位組件

六、良好的準確性

  • 粒度測試準確性:用100nm 標準樣品測試,結果為101nm,誤差范圍為1%,遠遠小于國際標準ISO13321 允許誤差10% 的要求。

  • Zeta 電位測試準確性:用-55mv 標準樣品測試,結果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于國際標準ISO13099 允許誤差10% 的要求。

  • 分子量測試

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