當前位置:上海百賀儀器科技有限公司>>光譜儀 - X熒光光譜儀(XRF)>> EDX660X熒光光譜儀
X熒光光譜儀EDX660的技術參數:
1、分析范圍 :30%---99.99%
2、測量時間 :60---300 秒
3、測量精度 :0.1%---99.99%
4、測量范圍 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
5、重量 :30KG
6、尺寸 :350*500*400mm
7、X射線源 :X射線光管。
8、探測器 :正比計數管
X熒光光譜儀EDX660的配置:
1、單樣品腔
2、正比計數器
3、放大電路
4、高低壓電源
5、X光管
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