菲希爾（FISCHER）膜厚儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。
它的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰。這種創新技術的，目前正在申請的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結構上進行測量。在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。具有強大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM? V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。 使用安全簡便，堅固耐用節省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾（FISCHER）膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標.
金東霖科技限公司是德國菲希爾膜厚儀華南總代理主營德國菲希爾 FISCHER XDLM、XUL、XULM、XAN XDVM等鍍層測厚儀、德國菲希爾 FISCHER成立 1953 年是世界上專業生產涂鍍層測厚儀Z早的廠家之一, 其電鍍膜厚儀占世界 80%市場， 德國菲希爾 FISCHER 已成為鍍層厚度測量和材料測試儀器領域*的*,FISCHER 通過 12 個 FISCHER 的子公司和 32 個在不同國家的代表處活躍于，金霖電子（香港）有限公司是德國 FISCHER 中國區華南總代理，負責中國華南地區銷售和服務。，金東霖歡迎各行業的朋友來電咨詢、了解或參觀相關儀器設備。
膜厚儀,膜厚測試儀,OSP膜厚儀,增透膜測厚儀,等.實驗室儀器
菲希爾（FISCHER）膜厚儀 產品信息
