廣州市數威儀器有限公司
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滿足極小孔徑的高精度光譜透射測量方案主要用于移動電子產品面板、蓋板玻璃、薄膜和塑料材料的光譜透過率和總透光率的測量，參考ASTMD1003,JC/T2130,GB/T2410等國際標準的要求
滿足極小孔徑的高精度光譜透射測量方案
主要用于移動電子產品面板、蓋板玻璃、薄膜和塑料材料的光譜透過率和總透光率的測量，參考ASTM D1003, JC/T 2130, GB/T 2410等國際標準的要求。
主要特點
●采用國家863計劃研究成果高精度光譜平臺，實現光譜透過率、透光率、平均透過率及顏色參數的精確測量；
●一體化設計，操作簡單；
●配備功能清晰的上位機軟件，使用方便，結果清晰；
●內置積分球采用遠方的詩貝倫涂層，性能更加穩定，壽命更加長久。
●實現成像輔助定位，方便樣品夾持和精確定位
技術參數：
1)測量功能：光譜透射率曲線、總透光率等
2)透射照明/接收條件：0/d；
3)透光率測量范圍：0%-100.00%
4)測量重復性：≤0.1單位，分辨率：0.01
5)適用的被測樣品范圍：長*寬≤A4紙大小，厚度≤150mm。
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