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捷歐路JEOL JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡

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產品簡介

捷歐路JEOL JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡的光學系統經過改進，實現了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，能提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GE...

詳細介紹

捷歐路JEOL JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡的光學系統經過改進，實現了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，能提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。

此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。

捷歐路JEOL JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡主要特點如下：

1.半浸沒式物鏡在樣品周圍形成強磁場，因而可以獲得超高分辨率。

2.High Power Optics 是的電子光學系統，既實現了高倍率觀察又能進行多種分析。浸沒式肖特基場發射電子槍，可以獲得10 倍于傳統肖特基場發射電子槍（FEG）的探針電流，光闌角控制鏡（ALC）在探針電流增大時也能保持小束斑，兩者組合起來能提供200 nA 以上的探針電流。強大的High Power Optics 系統，從高倍率圖像觀察到EDS分析和EBSD 解析可以一直使用高分辨率的最小物鏡光闌而不需要改換。

二次電子像分辨率	0.8 nm（加速電壓 15 kV），1.0 nm（加速電壓 1 kV ）分析時 3.0 nm (加速電壓 15 kV, WD 8 mm, 探針電流 5 nA )
倍率	Direct magnification: x25 to 1,000,000（120 x 90 mm） Display magnification: x75 to 3,000,000（1,280 x 960 pixels）
加速電壓	0.1 ～ 30 kV
探針電流	數 pA ～ 200 nA
電子槍	浸沒式肖特基場發射電子槍
透鏡系統	聚光鏡（CL）、光闌角控制鏡（ACL）、半浸沒式物鏡（OL）
樣品臺	全對中測角樣品臺、5軸馬達驅動
電子檢測器系列	高位檢測器、　r‐過濾器　內置、低位檢測器
自動功能	自動聚焦、自動消象散、自動亮度/襯度調節
圖像觀察用液晶顯示器	屏幕尺寸 23英寸寬屏分辨率　1,920 × 1,080像素
抽真空系統	電子槍室／中間室　SIP 離子泵樣品室　TMP 分子泵