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BDD—II型半導電層電阻試驗裝置

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更新時間：2025-01-25 08:31:52瀏覽次數(shù)：23次

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嘉興市凱博實驗儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

一、適用范圍：BDD型半導電層電阻測試成套裝置適用于GB/T11017.1-2008，附錄B、GB/T12706.2-2008和GB/T3048.3-2007《電線電纜電性能試驗方法第三部分半導電橡塑材料體積電阻率試驗方法》標準

詳細介紹

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一、適用范圍：

BDD型半導電層電阻測試成套裝置適用于GB/T11017.1-2008，附錄B、GB/T12706.2-2008和GB/T3048.3-2007《電線電纜電性能試驗方法第三部分半導電橡塑材料體積電阻率試驗方法》標準。能對3.5萬伏、11萬伏、22萬伏等各種高壓交聯(lián)電纜的導體半導電屏蔽層和絕緣半導電屏蔽層的電阻進行測量，從而得出半導電屏蔽層電阻率。增加相應附件，能完成GB3048.3《電線電纜電性能試驗方法·第3部分·半導電橡塑材料體積電阻率試驗》標準中半導電材料的電阻率的測試。

二、主要技術指標

1.適用范圍：外徑Φ130㎜以下各種電壓等級的交聯(lián)聚乙烯電纜。

2.加熱箱有效容積：450×450×450㎜

3.加熱箱加熱溫度范圍：室溫～100℃

4.加熱箱溫度偏差： ±2℃

5.加熱箱一次加熱試樣個數(shù)：2個導體屏蔽體積電阻率試樣，2個絕緣屏蔽體積電阻率試樣.

6.測試儀電源功率：< 100mw

7.對地絕緣電阻 >10¹²Ω

8.測試儀輸入端對地絕緣電阻>10¹²Ω

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