杭州華盼科技有限公司
簡要描述:武漢嘉儀通 OPA系列光功率熱分析儀
光功率熱分析儀產品特點
光功率熱分析儀應用功能
各種材料相變溫度(融化、軟化、晶化等)的實時測定
新型材料(相變材料、相變儲能材料)的穩定性測試及性能優化
強誘導體薄膜的結晶化退火
注入離子后的擴散退火
半導體材料的燒成與退火條件研究
玻璃基板的均熱退火
熱循環試驗與熱沖擊試驗
升溫脫離試驗與觸媒試驗
● NiAl復合薄膜 ● 氧化釩薄膜 ● PZT鐵電材料 ● MgO/Ni-Mn-Ga薄膜 ● GST相變存儲薄膜 ● 金屬Co薄膜 ● Al2O3薄膜 | ● iN薄膜 ● GeTe薄膜 ● ZrO2薄膜 ● 摻Ti的ZnSb薄膜 ● SiC薄膜 ● 顯示屏玻璃 ● 變記憶合金薄膜 | 樣品滿足以下要求: ● 尺寸:長x寬 (5-20)x(5-20) ,單位mm ● 厚 度 2.0mm(含基底)以下為宜 ● 變溫度測試樣品,具備光學反射平面 ● 熱膨脹系數測試樣品,具備光學反射雙平面 ● 適用于透光材料的熱膨脹系數檢測 ● 熱膨脹檢測樣品的熱膨脹量≥266nm |
光功率熱分析儀應用實例
● 紅外材料 | ● 復合材料 |
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圖1:VO2不同升溫速率12℃/min、15℃/min 對比圖(四川大學提供樣品) | 圖2:鋁鎳合金復合薄膜(西南科技大學提供樣品) |
● 相變存儲材料 | ● 熱電薄膜材料 |
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圖3:相變存儲材料圖(中科院微系統所提供樣品) | 圖4:熱電轉換薄膜材料(摻Ti的ZnSb)(深圳大學提供樣品) |
● 氧化鋯薄膜 | |
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圖5:ZrO2薄膜(清華大學提供樣品) | 氧化鋯薄膜與XRD對比圖 |
● 高溫陶瓷材料 | ● 硬質合金薄膜材料 |
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圖6:高溫陶瓷材料(TiN薄膜硅基底)(海南大學提供樣品) | 圖7:切削刀具相變監測曲線(武漢大學提供樣品) |
● SiC薄膜 | ● 顯示屏玻 |
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SiC薄膜熱膨脹系數監測曲線(第五十五研究所提供樣品) | 顯示屏玻璃熱膨脹系數監測曲線(武漢天馬提供樣品) |
光功率熱分析儀技術參數
型號 | OPA-300 | OPA-1200 | OPA-1800 |
溫度范圍 | RT~300℃ | RT~1200℃ | RT~1800℃ |
程序升溫重復性偏差 | <1.0% | ||
程序升溫速率偏差 | <1.0% | ||
相變溫度測量精密度偏差 | <3% | ||
相變溫度測量正確度偏差 | <3% | ||
熱膨脹系數測量精密度偏差 | <4.5% | ||
熱膨脹系數測量正確度偏差 | <±15% | ||
工作功率 | 4.0kw | ||
升溫速度 | 50℃/s(50℃~1200℃、真空氛圍),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N?氛圍) | ||
溫度一致性 | ±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N?) | ||
制冷要求 | 水冷 | ||
相變薄膜材料檢測厚度下限 | 1.0×10-9m | ||
熱膨脹分辨率 | 266nm | ||
主機尺寸 | 650 x 790 x 1350,單位mm | ||
重量 | 92.3kg |
光功率熱分析儀樣品要求
●尺寸:長×寬 5x5~20x20,單位mm,厚度2.0mm(含基底)以下為宜
●相變溫度測試樣品,具備光學反射平面
●熱膨脹系數測試樣品,具備光學反射雙平面,適用于透光材料的熱膨脹系數檢測
●檢測樣品的熱膨脹量≥266nm
●薄膜可選擇適當基底,建議用20mmx20mmx1.5mm石英玻璃或硅片
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