分光光譜儀種類
膜厚測量
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量

蒸餾膜測量
多點膜厚測量