詳細介紹
超聲波探傷儀試塊CSK-IA的特點是CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm三個臺階孔測定斜探頭分辨力。請選購超聲波探傷儀試塊CSK-IA
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