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廣東正業科技有限公司

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牛津儀器CMI165 說明

最近更新時間:2009-4-25

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詳細介紹:

    CMI165帶溫度補償功能的面銅測厚儀可測試高溫的PCB銅箔- 顯示單位可為mils,μm或oz- 可用于銅箔的來料檢驗- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試- 配有SRP-T1,帶有溫度補償功能的面銅測試頭- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
SRP-T1:CMI165可更換探針  

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